電路芯片高低溫老化箱
更新時(shí)間：2019-05-23
電路芯片高低溫老化箱，也稱為高低溫老化箱，高低溫試驗(yàn)箱，可程式高低溫試驗(yàn)箱，高低溫交變試驗(yàn)箱，芯片高低溫試驗(yàn)箱，高低溫濕熱試驗(yàn)箱。
- 上一個(gè)：芯片高低溫試驗(yàn)箱
- 下一個(gè)：芯片高低溫交變試驗(yàn)箱
一、電路芯片高低溫老化箱性能：
指氣冷式在室溫20℃，空載時(shí)
規(guī)格型號：HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000（A、B、C、D、E）
容量：
80升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X500X400mm
150升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：500X600X500mm
225升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X750X500mm
408升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：600X850X800mm
800升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm
1000升內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm
溫度范圍：
A表示：0℃～+150℃，B表示：-20℃～+150℃，C表示：-40℃～+150℃，
D表示：-60℃～+150℃，E表示：-70℃～+150℃
溫度精度：±0.01℃
溫度波動度：±0.5℃
溫度均勻度：±2.0℃
濕度范圍：20%RH～98%RH
濕度精度：±0.1%R.H
濕度波動度：±2.0%R.H.
濕度均勻度：±3%R.H.
升溫速率：平均3℃/min（非線性、空載時(shí)；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；可按要求定制非標(biāo)規(guī)格
降溫速度：平均1℃/min（非線性、空載時(shí)；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；可按要求定制非標(biāo)規(guī)格
二、電路芯片高低溫老化箱特點(diǎn)：
1.具有極寬的溫度控制范圍從-70到+150℃溫區(qū)選用，可滿足用戶的各種需要。
2.采用*的平衡調(diào)溫方式，可調(diào)節(jié)理想的溫度環(huán)境，具有穩(wěn)定平衡式加熱能力，可進(jìn)行高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。
3.溫度控制采用進(jìn)口程序控制型儀表。
4.本試驗(yàn)箱具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的機(jī)能，操作簡單。
5.試驗(yàn)箱內(nèi)溫度設(shè)定采用鍵盤設(shè)定器，使設(shè)定簡單易行，儀表具有偏差修正功能，經(jīng)過調(diào)整可獲得更為準(zhǔn)確的試驗(yàn)條件。
6.試驗(yàn)箱大門裝有帶燈觀察窗，可方便地觀察試樣品的試驗(yàn)狀態(tài)。
7.具有高溫開機(jī)功能，能在箱內(nèi)溫度130℃時(shí)開啟冷機(jī)快速降溫，用戶可方便連續(xù)地進(jìn)行高溫、低溫循環(huán)試驗(yàn)。
8.制冷系統(tǒng)中采用冷卻的冷凝方式，使用進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)。
